E-resource typeBOOKCDCONFERENCEDATABASEDISSERTATIONDOCUMENTJOURNALMANUSCRIPTNEWSPAPERPROCEEDINGREPORTSERIESTRANSCRIPTWIRE*
Main title2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
Languageeng
Katalog knihoven RA EIZ je vytvářen na základě Adresáře knihoven a informačních institucí v ČR vytvářeného Národní knihovnou ČR