Detail of purchased E-resource

*

2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems

eng

Contact: Martina Tvrdá
Phone number: 232 002 517
E-mail: raeiz@techlib.cz

Registr akvizice elektronických informačních zdrojů NTKv. 1.22 (Fri Feb 14 09:39:05 CET 2014, 78055)


Katalog knihoven RA EIZ je vytvářen na základě Adresáře knihoven a informačních institucí v ČR vytvářeného Národní knihovnou ČR